Please use this identifier to cite or link to this item: http://eir.zntu.edu.ua/handle/123456789/4990
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorТаланін, Віталій Ігорович-
dc.contributor.authorТаланін, Ігор Євгенович-
dc.contributor.authorСирота, Анатолій Васильович-
dc.contributor.authorTalanin Vitaliy I.-
dc.contributor.authorTalanin, Igor E.-
dc.contributor.authorSirota, Anatolij V.-
dc.contributor.authorТаланин, Виталий Игоревич-
dc.contributor.authorТаланин, Игорь Евгеньевич-
dc.contributor.authorСирота, Анатолий Васильевич-
dc.date.accessioned2019-11-25T13:09:52Z-
dc.date.available2019-11-25T13:09:52Z-
dc.date.issued2007-
dc.identifier.urihttp://eir.zntu.edu.ua/handle/123456789/4990-
dc.descriptionПатент на корисну модель № 21853 (Україна), Спосіб вирощування з розплаву бездіслокаційних монокристалів кремнію / Таланін І.Є., Таланін В.І., Сирота А.В. заявл. 11.09.2006; опубл. 10.04.2007, Бюл. №4.uk
dc.description.abstractUK: Винахід відноситься до галузі металургії високоякісних бездислокаційних монокристалів кремнію, що являються основним матеріалом для виготовлення елементної бази сучасної електронної промисловості. В основу винаходу поставлено завдання розробки способу який дозволяє керувати дефектною структурою бездислокаційних монокристалів кремнію, зокрема подавляти утворення вакансійних мікропор та міжвузловиних діслокаційних петель, які критичним чином впливають на якість вихідних монокристалів та структур на їх основі. EN: The invention relates to the field of metallurgy of high-quality silicon single-crystalline single crystals, which are the main material for the manufacture of the elemental base of modern electronic industry. The object of the invention is to develop a method that allows you to control the defective structure of silicon single-crystal single crystals, in particular to suppress the formation of vacant micropores and inter-node dislocation loops, which critically affect the quality of the original single crystals and structures based on them. RU: Изобретение относится к области металлургии высококачественных бездислокационных монокристаллов кремния, являются основным материалом для изготовления элементной базы современной электронной промышленности. В основу изобретения поставлена задача разработки способа который позволяет управлять дефектной структурой бездислокационных монокристаллов кремния, в частности подавлять образование вакансионных микропор и междоузлия дислокацийних петель, которые критическим образом влияют на качество исходных монокристаллов и структур на их основе.uk
dc.language.isoukuk
dc.publisherУкрпатентuk
dc.subjectgrowth microdefectsuk
dc.subjectheterogeneous diffusion modeluk
dc.subjectdislocation-free silicon single crystalsuk
dc.subjectростові мікродефектиuk
dc.subjectгетерогенна диффузиона модельuk
dc.subjectбездіслокаційні монокристали кремніюuk
dc.subjectростовые микродефектыuk
dc.subjectгетерогенная диффузионная модельuk
dc.subjectбездислокационные монокристаллы кремнияuk
dc.titleСпосіб вирощування з розплаву бездіслокаційних монокристалів кремніюuk
dc.title.alternativeMethod for growing dislocation-free silicon single crystals from a meltuk
dc.title.alternativeСпособ выращивания из разсплава бездислокационных монокристаллов кремнияuk
dc.typePatentuk
Appears in Collections:Патенти на корисну модель

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Talanin_Patent.pdfПатент942.67 kBAdobe PDFView/Open


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.